NANOWORLD® SPM AND AFM PROBES

納米技術是我們的領域。精度是我們的傳統。

 

創造是我們的關鍵工具。 因此,我們位於瑞士,歐洲最強大、最創造性的地區之一。通過應用我們的知識和我們高
精確度的探針,我們的顧客在使用掃描探針顯微鏡(SPM)時和特別在使用原子力顯微鏡(AFM)時能得到最好的結果


POINTPROBE®

• 全球使用最廣泛,最知名的SPM和AFM探針

• 用於高分辨掃描成像的硅SPM、AFM探針

• 支撐芯片背面的對准槽

• 探針半徑通常<8 nm, 保証<12 nm

• 可用不同探針形狀

ULTRA-SHORT CANTILEVERS

• 專為高速AFM系統而設計的超短懸臂梁

• 適用於空氣中的動態模式應用的3種具有很高共振頻率
(1.2 MHz-5 MHz)和高力常數的類型

• 主要用於液體中的3種具有高共振
頻率 和低力常數(0.15 N/m - 0.6 N/m)的類型

• 耐磨的高密度碳/類金剛石碳
(HDC / DLC)探針

• 探針半徑通常 < 10 nm

PYREX-NITRIDE

• 氮化硅懸臂梁和探針

• 設計用於接觸模式下或
  動態模式下的各種成像
  應用

• 氧化物打磨的金字塔探
  針

• 探針半徑通常 < 10 nm

• 可以提供三角形或長方形懸臂梁

• 也可以提供無探針的類型

ARROW™

• 通過最大化的探針視界來優化
定位

• 由實際晶面定義的三面探針

• 特殊的探針形狀導致非常對稱
的掃描

• 在懸臂梁的最末端有探針

• 探針半徑通常< 10 nm, 保証 <15 nm

• 可提供共振頻率高達2 MHz的高速版本