SuperSharpSilicon™ 探针 (SSS)

为了改善微粗糙度和纳米结构的分辨，我们研制了先进的探针制造过程；通过这种制造过程可以再一步改善针尖的尖锐度，甚至包括探针半径为 2 nm.的那么小的。
通过这些AFM探针我们使技术领域再一步宽大。

探针特点

探针高度为10 -15 μm SuperSharpSilicon™的典型半径大概为 2 nm.
我们保证探针半径小于 5 nm (保证成功率：80%)。在探针的最末200 nm半锥角小于10°。

高深宽比探针 (AR5/AR5T)

测量侧面角进于90°的样品时，比如测量深槽或者别的半导体应用，我们提出两种不同 的高纵横比探针，可以成像几乎竖式的侧壁。
这种针尖的总共高度为10 - 15 μm，就可以测量波纹形的样品。在探针的最末千分尺有高 深宽比部分， 这个部分如果从侧面看或者从沿着悬臂轴看是对称的。探针半径典型地为 10 nm (小于保证的 15 nm )。

探针特点

AR5 / AR5T探针的高深宽比部分大于2 μm，深宽比典型地为7:1 (保证最低深宽比为5:1)。 因此，高深宽比部分的半锥角典型小于5°。 另外，从中心轴看 AR5T 版的高深宽比部分 倾斜度为13°，因此可以达到完全对称的成像。
因此，为了补偿商用AFM中最常见的13°倾斜角，AR5T的高深宽比部分相对于探针的中心轴倾斜13°。

金刚石涂层探针 (DT), 导电金刚石涂层探针 (CDT)

为那些要求探针和样品的硬性接触的SPM、AFM应用，我们推荐我公司的金刚石涂层探针(DT)。
摩擦力测量、样品弹性性能的测量以及磨损测量或纳米结构测量等作为典型的应用。导电金刚石涂层探针（CDT）还可提供导电的非钝化涂层。

探针、涂层特点

在悬臂梁的探针表面带真实多晶金刚石涂层 ——具有无与伦比的金刚石硬度。探针高度为10 - 15 μm，金刚石层厚度为 100 nm。 探针的宏观半径为100 - 200 nm，不过探针经常有10 nm大的纳米表面粗糙度。如果用 CDT ，导电率为 0.003 - 0.005 Ohm•cm。