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ACERCA DE NANOWORLD®
La nanotecnología es nuestro campo. La precisión es nuestra tradición.
La innovación es nuestra herramienta clave.
Por eso estamos ubicados en Suiza, una de las áreas más fuertes e innovadoras en Europa.
Aprovechando nuestros conocimientos y sondas de alta precisión, nuestros clientes pueden conseguir los mejores resultados con la Microscopía de Sondas de Barrido (SPM) y en particular con la Microscopía de Fuertza Atómica (AFM).
POINTPROBE®
Características generales
- la sonda más utilizada y más conocida de SPM y AFM en el mundo
- sonda de SPM y AFM de silicio para imagen con alta resolución
- ranuras de alineación sobre el dorso del chip portador
- radio típico de la punta < 8 nm
- garantizado < 12 nm
- disponible con puntas de formas diferentes
ARROW™
Características generales
- posicionamiento optimizado medi-ante visibilidad máxima de la punta
- punta con tres lados definidos por los planos reales de cristal
- punta al mismo final del cantilever
- radio típico de la punta < 10 nm
- garantizado < 15 nm
PYREX-NITRIDE
Características generales
- puntas y cantilevers de nitruro de silicio
- chip portador de vidrio borosilicato
- destinado a diferentes aplicaciones de visualización en modo de contacto o modo dinámico
- puntas piramidales de las sondas afiladas mediante oxidación
- radio típico de la punta < 10 nm
- disponible con cantilevers triangulares y rectangulares