Pointprobe 針尖
Pointprobe 側視圖
Pointprobe 三維視圖
標准Pointprobe® 探針的形狀是多邊棱錐體的。 探針的宏觀半錐角沿著懸臂軸為 20°至25°；從側面看為25°至30°；在針尖的最末端部事實上為零度 。 Pointprobe® 探針高度為10 – 15 µm，針尖半徑典型地 比 8 nm 好 (比保証的12 nm小) 。
SuperSharpSiliconTM 針尖 (SSS)
High Aspect Ratio 針尖 (AR5)
Tilt compensated AR5T
Diamond Coated 針尖 (DT, CDT)
為了改善微粗糙度和納米結構的分辨，我們研制了先進的針尖制造過程；通過這種制造過程可以再一步改善針尖的尖銳度，甚至包括針尖半徑為2 nm的那麼小的。通過這些針尖我們使技術領域再一步寬大。
針尖高度為10 -15 µm, SuperSharpSilicon™的典型半徑大概為2 nm。 我們保証針尖半徑小於5 nm (保証成功率：80%) 。在針尖的最末200 nm半錐角小於10°。
測量側面角進於90°的樣品時，比如測量深槽或者別的半導體應用，我們提出兩種不同的高縱橫比針尖，可以成像幾乎豎式的側壁。
這種針尖的總共高度為10 - 15 µm，就可以測量波紋形的樣品。在針尖的最末千分尺有高縱橫比部分， 這個部分如果從側面看或者從沿著懸臂軸看是對稱的。
針尖半徑典型地為10 nm (小於保証的15 nm) 。
AR5 / AR5T針尖的高縱橫比部分大於2 µm，縱橫比典型地為7:1 (保証起碼的縱橫比為5:1) 。
因此，高縱橫比部分的半錐角典型小於5° 。
外 ， 從 中 心 軸 看 AR5T 版 的 高 縱 橫 比 部 分 傾 斜 度 為 13°， 因 此 可 以 達 到 完 全 對 稱 的 成 像 。
為那些要求探針和樣品的硬性接觸的SPM,AFM應用，我們推薦我公司的Diamond Coated针尖 (DT) 。摩擦力測量、樣品彈性性能的測量、磨損測量、納米結構測量等作為典型的應用。Conductive Diamond Coated針尖(CDT) 另外提供導電的、鈍化的涂層。
在懸臂的針尖表面帶真實多晶金剛石涂層 ——具有無法比擬的金剛石硬性。針尖高度為10 - 15 µm，金剛石層厚度為 100 nm。 針尖的宏觀半徑為100 - 200 nm，不過針尖經常有10 nm大的納米表面粗糙度。如果用 CDT ，導電率為 0.003 - 0.005 Ohm•cm。
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