Sobre NANOWORLD®

A nanotecnologia é o nosso campo. A precisão é a nossa tradição.



A inovação é o nosso instrumento.
Por isso estamos alocados na Suiça, uma das áreas mais poderosas e mais inovadoras de Europa.



Com os nossos conhecimentos e a alta precisão das sondas de SPM e AFM, os nossos clientes podem conseguir os melhores resultados em Microscopia de Varredura por Sonda (SPM) e particularmente em Microscopia de Força Atômica (AFM).



POINTPROBE®

Características Gerais

  • a sonda de SPM/AFM mais utilizada da e mais conhecida no mundo
  • sonda de SPM/AFM de silício para visualizações de alta resolução
  • ranhuras de alinhamento na parte posterior do chip portador
  • raio típico da ponta < 8 nm
  • garantido < 12 nm
  • disponível com pontas de formas diferentes

ARROW™

Características Gerais

  • posicionamento optimizado através de visibilidade máxima da ponta
  • ponta com três faces definidas pelos planos reais de cristal
  • ponta no extremo do cantilever
  • raio típico da ponta < 10 nm
  • garantido < 15 nm

PYREX-NITRIDE

Características Gerais

  • pontas e cantilevers de nitreto de silício
  • chip portador de vidro boro-silicato
  • destinado a diferentes aplicações de visualização em modo de contacto ou modo dinâmico
  • as pontas das sondas são piramidais, afiadas através de oxidação
  • raio típico da ponta < 10 nm
  • disponível con cantilevers triangulares ou rectangulares