A PROPOS DE NANOWORLD®

La Nanotechnologie est notre spécialité. La précision, notre tradition.



L’innovation est notre raison de vivre.
C’est pourquoi nous nous sentons particulièrement bien en Suisse,
une des régions les plus prospères et innovantes d’Europe.

Grâce à nos connaissances et à la haute précision de nos sondes, nos clients sont à même d’obtenir les meilleurs résultats en microscopie à sonde à balayage (Scanning Probe Microscopy: SPM) et plus particulièrement en microscopie à force atomique (Atomic Force Microscopy: AFM).



POINTPROBE®

Caractéristiques principales

  • sonde SPM/AFM la plus utilisée et la plus connue dans le monde
  • sonde SPM/AFM en silicium pour des images à très haute résolution
  • structures d’alignement sur la face arrière du support de préhension
  • rayon de courbure de la pointe typiquement < 8 nm
  • rayon de courbure de la pointe garanti < 12 nm
  • disponible avec différentes formes de pointe

ARROW™

Caractéristiques principales

  • positionnement optimal grâce à l’excellente reproductibilité de l’emplacement de la pointe sur le levier
  • pointe à trois faces définies par de véritables plans cristallins
  • pointe située tout à l’extrémité du levier
  • rayon de courbure de la pointe typiquement < 10 nm
  • rayon de courbure de la pointe garanti < 15 nm

PYREX-NITRIDE

Caractéristiques principales

  • leviers et pointes en nitrure de silicium
  • support de préhension en verre pyrex
  • sonde SPM/AFM conçue pour diverses applications de mesure en mode contact ou en mode dynamique
  • pointes pyramidales affinées par oxydation
  • rayon de courbure de la pointe typiquement < 10 nm
  • disponible avec des leviers triangulaires ou rectangulaires