PointProbe Silicon AFM Probes

POINTPROBE®
SONDAS DE AFM DE SILICIO

Sonda de AFM y SPM de alta calidad, la más usada y conocida en el mundo

Punta Pointprobe®

Pointprobe® Vista Lateral

Pointprobe® Vista 3D

Punta Pointprobe® (Estándar)

La punta estándar Pointprobe® tiene forma piramidal con base polígono. Su ángulo microscópico semicónico es de 20°´a 25° visto desde el eje del cantilever, 25° a 30° visto de lado y prácticamente cero al mismo final de la punta. La punta Pointprobe® es de altura 10 - 15 µm con radio típico menor de 8 nm (garantizado menor de 12 nm).

General

  • sonda de SPM y AFM para imagen de resolución muy alta
  • compatible con todos los conocidos SPMs y AFMs comerciales
  • el cantilever y la punta se soportan por un chip portador de silicio monocristalino (diseño monolítico)

Características del material

  • silicio monocristalino altamente dopado (resistencia 0.01 - 0.025 Ohm•cm)
  • sin tensión intrínseca y cantilevers absolutamente rectos
  • silicio químicamente inerte para aplicación en fluidos o células electromagnéticas

Cantilever

  • cantilever rectangular con sección transversal trapezoide
  • lado detector ancho para un fácil ajuste del láser
  • el pequeño lado de la punta reduce el amortiguamiento

Chip portador

  • el cantilever está integrado en un chip portador de silicio
  • las dimensiones del chip portador son muy reproducibles (1.6 mm x 3.4 mm)
  • las ranuras de alineación al dorso del chip portador de silicio junto al chip de alineación facilitan el cambio de las sondas sin reajuste significativo del haz del láser.

Dimensiones del envase

  • envases pequeños de 10, 20 ó 50 sondas
  • oblea completa (wafer) con 380 hasta 388 sondas en dependencia del producto

RECUBRIMIENTOS DISPONIBLES

Recubrimiento reflectivo

  • recubrimiento de aluminio con espesor de 30 nm al dorso del cantilever
  • aumenta la reflectancia del láser con factor 2.5
  • previene la interferencia de la luz en el cantilever

Recubrimiento magnético duro + blando

  • recubrimiento magnético duro: aleación de cobalto al lado de la punta
  • magnetización permanente de la punta
  • recubrimiento magnético blando:
    al lado de la punta
    (coercividad aprox. 0.75 Oe, magnetización remanente aprox. 225 emu/cm3)

Otros recubrimientos están disponibles bajo pedido

Punta SuperSharpSiliconTM (SSS)

Punta High Aspect Ratio (AR5)

Tilt compensated AR5T

Punta Diamond Coated (DT, CDT)

Punta SuperSharpSilicon™ (SSS)

Para mejor resolución de las microasperezas y nanoestructuras hemos elaborado un proceso eficaz de fabricación de puntas que lleva a una mejora en su agudeza con radio de la punta hasta 2 nm. Con estas puntas de AFM hemos ensanchado los límites tecnológicos.

Características de la punta

La altura de la punta es de 10 -15 µm, el radio típico de SuperSharpSilicon™ es aprox. 2 nm. Garantizamos un radio menor de 5 nm (éxito garantizado: 80%). El ángulo semicónico es menor de 10°en los últimos 200 nm de la punta.

Punta High Aspect Ratio (AR5/AR5T)

Para medición de muestras con ángulos laterales cerca de 90°, por ej. mediciones de concavidades profundas u otras aplicaciones semiconductoras ofrecemos dos tipos diferentes de puntas que permiten la visualización de lados laterales casi verticales. Estas puntas tienen altura total de 10 - 15 µm, que permite mediciones de muestras muy arrugadas. En los últimos micrómetros las puntas muestran parte con alto coeficiente de longitud que es simétrica vista de lado o desde el eje del cantilever. El radio de la punta es típico de 10 nm (radio garantizado menor de 15 nm).

Características de la punta

La parte con coeficiente alto de longitud de la punta AR5 / AR5T es mayor de 2 µm y muestra coeficiente típico de longitud de 7:1 (el coeficiente mínimo garantizado es de 5:1). Por consecuencia, el ángulo del semicono de la parte con coeficiente alto de longitud es típicamente menor de 5°. Además, la parte con coeficiente alto de longitud de la versión AR5T está inclinada con 13° respecto al eje central de la punta que permite obtener una imagen absolutamente simétrica.

Punta Diamond Coated (DT), Punta Conductive Diamond Coated (CDT)

Para las aplicaciones SPM y AFM que requieren contacto duro entre la sonda y la muestra recomendamos nuestra punta Diamond Coated (DT). Sus aplicaciones más típicas son las mediciones de la fuerza de fricción, de la elasticidad de las muestras, así como mediciones del desgaste o de las nanoestructuración. La punta Conductive Diamond Coated (CDT) ofrece también recubrimiento conductor no pasivado.

Características de la punta y del recubrimiento

Recubrimiento de diamante policristalino verdadero al lado de la punta con la dureza insupera-ble del diamante. La altura de la punta es de 10 - 15 µm, y la espesor de la capa de diamante es aprox. 100 nm. El radio macroscópico de la punta es entre 100 - 200 nm, pero muchas veces la punta muestra nanoasperezas de aprox.10nm.En caso de CDT la conductividad es entre 0.003 - 0.005 Ohm.cm.

 

Recubrimiento de diamante

  • Recubrimiento de diamante policristalino de espesor de 100 nm al lado de la punta.
  • dureza insuperable de la punta

PtIr5 Recubrimiento

  • Capa de 25 nm de cromo/platino-iridio5 de los dos lados de la sonda de barrido
  • compensa la tensión y resiste al desgaste
  • el recubrimiento al lado del detector aumenta la reflectancia del haz de láser con factor 2.
  • permite mediciones eléctricas

Recubrimiento de oro (bajo pedido)

  • Recubrimiento de cromo/oro de 70 nm al dorso del cantilever
  • Recubrimiento de cromo/oro de 70 nm de los dos lados de la sonda