ACERCA DE NANOWORLD®

La nanotecnología es nuestro campo. La precisión es nuestra tradición.



La innovación es nuestra herramienta clave.
Por eso estamos ubicados en Suiza, una de las áreas más fuertes e innovadoras en Europa.



Aprovechando nuestros conocimientos y sondas de alta precisión, nuestros clientes pueden conseguir los mejores resultados con la Microscopía de Sondas de Barrido (SPM) y en particular con la Microscopía de Fuertza Atómica (AFM).



POINTPROBE®

Características generales

  • la sonda más utilizada y más conocida de SPM y AFM en el mundo
  • sonda de SPM y AFM de silicio para imagen con alta resolución
  • ranuras de alineación sobre el dorso del chip portador
  • radio típico de la punta < 8 nm
  • garantizado < 12 nm
  • disponible con puntas de formas diferentes

ARROW™

Características generales

  • posicionamiento optimizado medi-ante visibilidad máxima de la punta
  • punta con tres lados definidos por los planos reales de cristal
  • punta al mismo final del cantilever
  • radio típico de la punta < 10 nm
  • garantizado < 15 nm

PYREX-NITRIDE

Características generales

  • puntas y cantilevers de nitruro de silicio
  • chip portador de vidrio borosilicato
  • destinado a diferentes aplicaciones de visualización en modo de contacto o modo dinámico
  • puntas piramidales de las sondas afiladas mediante oxidación
  • radio típico de la punta < 10 nm
  • disponible con cantilevers triangulares y rectangulares